White-Spot-Analyse: Innovationsnischen identifizieren

Patente sind so etwas wie die Schrebergärten der Innovation. Mit ihnen werden Claims für Innovationen abgesteckt und Wettbewerber in die Schranken gewiesen. Doch Patente lassen sich nicht nur zur ideellen Besitzstandswahrung nutzen. In ihrer Gesamtheit ergeben sie eine Art Landkarte der Ideen und Innovationen und bilden eine hervorragende Quelle für eigene Neu- oder Weiterentwicklungen.

Doch wer Patente mit dem Ziel der Identifikation von Innovationsmöglichkeiten auswertet, stößt schnell an Kapazitätsgrenzen. Die stetig zunehmende Patentflut muss inhaltlich erfasst und analysiert und Wichtiges von Unwichtigem unterschieden werden. Außerdem erfordert die Identifikation von Innovationschancen sehr viel fachliche Expertise und Erfahrung im Umgang mit Patenten. Hunderte Patente müssen hierfür gelesen und analysiert werden, bevor man sich einen umfassenden Überblick über einen Technologiebereich verschafft hat. Dieser Prozess ist zeitaufwendig und teuer, weil wichtige Leistungsträger für längere Zeit gebunden sind.

Um dieses Problem zu lösen, hat das Fraunhofer IAO eine Methode entwickelt, mit der sich zum einen Patentinhalte schnell erfassen und zum anderen attraktive Lücken in einem Technologiebereich aufdecken lassen. Die White-Spot-Analyse basiert auf einer in Kooperation mit der TEMIS Deutschland GmbH entwickelten Text-Mining-Lösung, mit deren Hilfe sich Patente sozusagen »auf Knopfdruck« auf ihre beschriebenen Probleme und Lösungsansätze untersuchen lassen. Ein weiteres Kernelement der Methode ist die Einbindung markt- und unternehmensbezogener Daten, um die Lücken zu bewerten, die sich aus der Patentdatenanalyse ergeben. Nicht jede Lücke ist auch eine attraktive Lücke! Denn wo sich kein Markt bietet oder keine unternehmensinternen Ressourcen vorhanden sind, um die gefundene Lücke auszubauen und zu füllen, dort sollte man auch nicht investieren.

Ihr Interesse geweckt? Dann lesen Sie mehr zur White-Spot-Analyse in unserer Studie (Leseprobe) oder nehmen Sie Kontakt auf, um mehr über die Leistungsfähigkeit einer White-Spot-Analyse für Ihre Branche oder Ihr Unternehmen zu erfahren.

White-Spot-Analyse

»IT-gestützte White-Spot-Analyse: Potenziale von Patentinformationen am Beispiel Elektromobilität erkennen«

Studie bestellen (https://shop.iao.fraunhofer.de)

Die Studie fasst den Stand der Technik im Bereich der IT-gestützten Patentdatenanalyse zusammen. Die White-Spot-Analyse des Fraunhofer IAO wird an einem einfachen Beispiel, das sich mit Batteriemanagementsystemen für Elektrofahrzeuge befasst, vorgestellt.

Yvonne Wich

Yvonne Wich

»Patente« Doktorandin und erfahrene Projektmanagerin im Bereich Technologiemanagement. Ihr Spezialgebiet ist die kreative Nutzung von bestehenden Patenten, um systematisch Ideen für neue Patente zu entwickeln.

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